鑄鐵
面積法晶粒度
奧林巴斯清潔度分析系統
Prior程序控制電動載物臺
DSX1000數碼顯微鏡
Presi制樣設備
DP74
即時景深擴展（EFI）
自動聚焦裝置
夾雜物最惡劣視場法
光源以及配件
圖譜對照
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
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清潔度分析系統CIX100
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研究型連續變倍SZX系列
焊接
輔助聚焦裝置
DP27
截點法晶粒度
偏光顯微鏡BX53P
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
Linkam顯微鏡熱臺
OLS5100激光共焦顯微鏡
普及型連續變倍SZ系列
孔隙率
層厚度測量
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
奧林巴斯測量顯微鏡
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